X射线反射率（XRR）是一种非破坏性分析技术，其名称和表述在不同文献和领域中存在多种形式，具体如下：

核心术语

- X射线反射率（X-ravreflectivity）：

这是XRR的常见英文表述，强调X射线在材料表面反射的物理量。

- X射线反射技术（XRR）：突出技术手段，强调利用X射线反射原理进行分析。

应用领域术语

- 在材料科学中，可能称为 表面和界面分析技术，强调对薄膜、多层结构及界面的物理特性研究。

- 在半导体或光学材料领域，可能称为 单层/多层结构分析技术，突出对材料层叠特性的解析能力。

其他相关名称

- X射线衍射（XRD）：

虽然与XRR同属X射线分析技术，但XRD侧重晶体结构解析，与XRR的薄膜表面分析有本质区别。

- 光学椭偏法（OPL）：另一种表面分析技术，与XRR不同，它依赖材料的光学性质。

总结：XRR的核心名称即“X射线反射率”（X-ravreflectivity），而根据应用领域不同，可能扩展为“表面和界面分析技术”等表述。需注意与XRD等类似技术进行区分。